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一种用分光光度计测量光柱镭射纸光栅参数的方法

发明专利有效专利

申请号：CN201310685058.X
申请人：北京印刷学院
申请日：2013-12-13
主分类号：G01M11/02
公开（公告）日：2015-02-04
公开/公告号：CN104330240A

委托购买

摘要：本发明涉及一种用分光光度计测量光柱镭射纸光栅参数的方法。首先根据光栅方程，绘制不同衍射角和衍射级数下的光栅常数和波长分布关系图；使用多角度式分光光度计采集光柱镭射纸在沿光柱方向和垂直于光柱方向不同测量区域的光谱数据，绘制不同探测角度下的光谱能量曲线分布图；结合不同衍射角和衍射级数下的光栅常数和波长分布关系，分析测得的光谱数据的变化规律，推算光栅条纹的光栅常数；固定多角度分光光度计光孔与镭射纸的相对位置，将光柱镭射纸平面旋转90°，测量同一位置的光谱信息，推导光柱镭射纸光栅条纹的刻划方向。本发明在一定程度上解决了困扰科学界和工业界难以准确测量镭射纸的难题，具有操作方便、简单快捷的特点。

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