一种瑞利-高斯衰落信道模型的验证方法

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一种瑞利-高斯衰落信道模型的验证方法

发明专利有效专利
  • 申请号:CN202110043910.8
  • 申请人:合肥工业大学
  • 申请日:2021-01-13
  • 主分类号:H04B17/391
  • 公开(公告)日:2021-05-28
  • 公开/公告号:CN112865896A
委托购买

摘要:本发明涉及一种瑞利‑高斯衰落信道模型的验证方法,包括:建立瑞利‑高斯衰落信道模型仿真平台,并计算信道模型的时域衰落、幅值包络、相位和功率谱;验证信道模型的时域衰落特征是否满足瑞利‑高斯信道时域特征;验证信道模型的一阶统计特征是否满足瑞利‑高斯信道一阶统计特征;验证信道模型的功率谱是否满足瑞利‑高斯信道功率谱;判定所建信道模型是否为瑞利‑高斯信道模型。本发明可以通过定量分析信道模型的时域衰落特征和一阶统计特征、观察信道模型多普勒功率谱实际谱图的形状和带宽,对瑞利‑高斯衰落信道模型进行验证。

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