摘要：本发明公开了一种珍珠珠层厚度的无损检测方法，包括以下步骤：将标准球体设置在X射线放射源和成像平面之间，使标准球体的球心位于参考直线上；利用X射线放射源照射标准球体，从而在成像平面上得到一标准球体图像，测量标准球体图像的半径R0，计算比例系数μ＝r0/R0，其中，r0为标准球体的半径；将待测珍珠设置在X射线放射源和成像设备之间，使待测珍珠的球心位于参考直线上；利用X射线放射源照射待测珍珠，从而在成像平面上得到待测珍珠图像，待测珍珠图像包括珠核图像和环状的珠层图像，测量待测珍珠图像的半径R1以及珠核图像的半径R2，待测珍珠的半径为r1＝μR1，珠核的半径为r2＝μR2，珠层厚度为r＝r1-r2。基于本发明的计算过程中的误差可控，测量结果更为准确。

摘要：本发明公开了一种珍珠珠层厚度的无损检测方法，包括：利用X射线放射源逐一照射两个待测物体，得到两个初始图像；依据像素点的灰度值，判断一个像素点是否为边界点，从而从初始图像中识别出待测物体图像的所有的边界点；对于标准球体，利用识别出的边界点拟合成一个圆，并以该圆的半径为标准球体图像的半径R0；对于待测珍珠，利用识别出的边界点拟合成三个同心圆，其中，以位于中心的一个圆的半径为珠核图像的半径R2，以位于最外侧的一个圆的半径为待测珍珠图像的半径R1；待测珍珠的半径为r1=μR1，珠核的半径为r2=μR2，则珠层厚度为r=r1-r2，其中，比例系数μ=r0／R0，r0为标准球体的半径。本发明实现了珠层厚度的计算，测量结果更为准确。