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一种测量等离子体离子非广延参数的方法
发明专利有效专利摘要:本发明涉及一种测量等离子体离子非广延参数的方法,包括如下步骤:用非广延统计力学描述等离子体,求得描述测地声模频率与等离子体离子声速之间关系的公式;收集待测等离子体所在装置中的测地声模的频率和等离子体温度的测量数据;利用求得的描述测地声模频率与等离子体离子声速之间关系的公式对收集到的待测等离子体所在装置中的测地声模的频率和等离子体温度的测量数据进行线性拟合得到斜率值;根据求得的公式和得到的斜率值,并结合所测等离子体所在装置的安全因子,数值求解得到离子非广延参数。本发明填补了在非广延参数诊断中,电子非广延参数已可由非广延电单探针测得而对应的离子非广延参数还无法诊断的空白。
*来源于国家知识产权局数据,仅供参考,专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供