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一种测量真空紫外光强度的金属纳米线探测器及其方法

发明专利无效专利

申请号：CN201310303636.9
申请人：北京工商大学
申请日：2013-07-18
主分类号：G01J1/42
公开（公告）日：2013-10-23
公开/公告号：CN103364080A

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摘要：一种测量真空紫外光强度的金属纳米线探测器及方法，实现对真空紫外光谱信号的绝对测量。探测器由带纳米孔的多孔阳极氧化铝模板构成，该板的纳米孔中沉积有可生长出单质金属纳米线的单质金属，该探测器用于真空环境下测量30－250eV的紫外光信号强度。测量方法是：用一铜环片作阳极，用金属纳米线探测器作阴极，两者间插有绝缘垫圈，将阴极与一个电流计串联，并在该测量回路中加设一可为阳极与阴极间提供正或负偏压的直流稳压电源；先用一传输标准探测器对金属纳米线探测器进行标定；再将标定好的探测器置于测量光强信号光路布局中的对应位置上；启动光路系统，并对阳极与阴极间加正或负偏压；采用全电子产额的方法测量光强信号，测量高效且信号稳定。

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