一种星地双基地差分干涉基线坐标以及形变量测量方法

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一种星地双基地差分干涉基线坐标以及形变量测量方法

发明专利有效专利
  • 申请号:CN201510107459.6
  • 申请人:北京理工大学
  • 申请日:2015-03-12
  • 主分类号:G01S19/41
  • 公开(公告)日:2015-06-24
  • 公开/公告号:CN104730551A
委托购买

摘要:本发明公开了一种星地双基地差分干涉基线坐标以及形变量测量方法,采用S颗卫星向基准站和测量站发射信号,在需要进行坐标测量或者形变量测量处放置测量站,在基准站中,将直达波信号与测量站信号的相位分别与本振信号相位混频处理,获得直达波信号相位历史和测量站信号相位历史;计算获得直达波方位向信号和测量站方位向信号的空间差分相位;当进行坐标测量时,选择参考卫星,对导航卫星与参考卫星之间的空间差分相位进行星间差分,获得星间差分方程组并补偿,解算获得基线坐标的估计值。当进行形变量测量时,对相邻时间段的空间差分相位进行差分,获得时间差分方程组并补偿,解算获得形变量坐标。该方法精度高、成本低、时间连续。

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