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一种提高光学器件偏振串扰测量性能的装置及方法

发明专利有效专利

申请号：CN201210379407.0
申请人：哈尔滨工程大学
申请日：2012-10-09
主分类号：G01M11/02
公开（公告）日：2013-02-13
公开/公告号：CN102928199A

委托购买

摘要：本发明提供的是一种提高光学器件偏振串扰测量性能的装置及方法。包括宽谱光源（301）、起偏器（311）、待测偏振器件（632）、光程相关器（640）、偏振串扰检测与信号记录装置（150），宽谱光源（301）通过起偏器（311）、第1旋转连接器（631）与待测光纤器件（632）连接后，再通过第2旋转连接器（633）与光程相关器（640）连接。本发明可以极大地抑制噪声幅度，提高偏振串扰测量的灵敏度和动态范围，广泛用于光学器件偏振性能的高精度测量与分析中。

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