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一种基于ATE的DAC动态指标测试方法及系统

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申请号：CN202211119320.X
申请人：中国电子科技集团公司第五十八研究所
申请日：2022-09-14
主分类号：H03M1/10
公开（公告）日：2022-12-06
公开/公告号：CN115441870A

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摘要：本发明公开一种基于ATE的DAC动态指标测试方法及系统，属于DAC测试技术领域。首先，根据被测DAC的动态指标要求生成相应测试向量，确定测试向量发送速率，利用ATE的数字通道对被测DAC施加测试向量；其次，经过被测DAC转换后的模拟信号通过ATE的模拟采集板卡进行单通道分次采样，确定每次采样速率和总采样次数，每次采样保持相同采样速率、每次采样初始时刻相较上次采样初始时刻保持固定偏差；然后，采样完成后，将每次采样信号在时域恢复合成最终信号；最后，通过上位机对采样信号进行快速傅里叶变换，再通过频谱分析及数据处理得到被测DAC的动态指标测试结果。本发明能够针对高速DAC动态指标测试，不依赖外部仪器仪表，提高高速DAC动态指标测试效率。

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