一种回转体突变截面轴向尺寸测量方法
专利
专利类型：
专利有效性：
法律状态：
高级筛选：
路标网共为您找到相关结果1个
公开(公告)时间
申请时间
一种回转体突变截面轴向尺寸测量方法
发明专利无效专利- 申请号：CN200910148328.7
- 申请人：北京理工大学
- 申请日：2009-06-16
- 主分类号：G01B11/02
- 公开（公告）日：2009-11-04
- 公开/公告号：CN101571378
申请同类专利
摘要：本发明属于测量仪器制造及测量技术领域，特别是一种回转体突变截面轴向尺寸高精度自动测量方法。其原理是利用高精度线阵CCD光学成像技术和高精密运动控制技术，通过对回转体纵截面轮廓线的快速测量得到回转体的轮廓数据，计算回转体轮廓线的曲率变化，求取轮廓线上曲率变化的局部极值点，得到突变截面的轴向位置，从而计算出突变截面的轴向尺寸。该方法适用于对各种复杂回转体零件中沟槽、台阶及锥台等轴向尺寸的快速测量，尤其适用于具有小间距的沟槽以及采用接触法不容易测量的回转体零件。
著录信息权利要求说明书PDF全文法律状态引证文献
- 1
没找到想要的结果？为您推荐专业专利顾问检索
一种回转体突变截面轴向尺寸测量方法 专利，更快更准确
免费
我想查:已帮助0位用户进行查询在售专利 早买早用
更多>*来源于国家知识产权局数据，仅供参考，专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供
- 热门业务
- 常用工具
- 规则与服务
- 商务合作
- 关于我们
- 服务热线路标网：023-88392937
快申报：023-88392959
工作日：9:00-12:00/13:30-18:00
商标进度查询
风险动态监测预警
北京聚集科技有限公司版权所有
Copyright @ CHATM ALL Right Reserve
免责声明：本网站部分内容由用户自行上传，如权利人发现存在误传其作品情形，请及时与本站联系删除：chatm@zbj.com
