一种利用光声干涉成像进行无损检测方法
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一种利用光声干涉成像进行无损检测方法
发明专利无效专利- 申请号：CN200910058915.7
- 申请人：电子科技大学
- 申请日：2009-04-13
- 主分类号：G01N21/88
- 公开（公告）日：2009-09-09
- 公开/公告号：CN101526483
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摘要：本发明公开了一种利用光声干涉成像进行无损检测的方法，所用器件包括泵浦激光器1、透镜2、检测激光器4、分光镜5、第一全反镜6、第一光束整形器7、白屏8、第二光束整形器9和第二全反镜10。利用该方法成像不用扫描，所成像既能反映材料表面的缺陷和均匀性，又能反映材料表面的光致声波，是材料表面无损检测和光致声波研究的一种新技术。
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