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一种减小双折射色散对保偏光纤偏振耦合测量影响的装置

发明专利有效专利

申请号：CN201110118127.X
申请人：哈尔滨工程大学
申请日：2011-05-09
主分类号：G01M11/02
公开（公告）日：2011-12-14
公开/公告号：CN102279095A

委托购买

摘要：本发明提供的是一种减小双折射色散对保偏光纤偏振耦合测量影响的装置。包括宽谱光源(1)、待测保偏光纤(3)、偏振耦合检测装置(4)、第一连接光纤(53)、第二连接光纤(54)，还包括三端口光环行器(2)、半反半透光束偏振旋光器(6)、旋光器(7)、第一旋转连接器(51)和第二旋转连接器(52)。半反半透偏振旋光器将宽谱光分成均匀两束，同时从正向和逆向通过待测光纤，利用同一偏振耦合检测装置，同时获得扫描位置对称地两幅偏振耦合测量数据。本发明对于光纤陀螺敏感环的参数测量与性能评价具有非常重要的实用价值，也可广泛应用于分布式保偏光纤传感系统中。

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