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风险动态
NSX
待审中申请号: G1658784
申请日期: 2022-04-28
申请人: ONTO INNOVATION INC.
国际分类: 9类-科学仪器
基本信息
商标名称 | NSX | ||
申请号 | G1658784 | 国际分类 | 9类-科学仪器 商标分类表 |
商标状态 | 待审中 | 申请日期 | 2022-04-28 |
申请人 | ONTO INNOVATION INC. ONTO INNOVATION INC. 查看此申请人的商标分析报告 | ||
代理机构 | 国际局 查看此代理机构下的所有商标 | ||
商标类型 | 普通商标 | 是否共有商标 | 否 |
专用权期限 | 暂无 | 国际注册日期 | 暂无 |
后期指定日期 | 暂无 | 优先权日期 | 暂无 |
商品信息
商品与服务项 |
【0901】检查和计量设备及装置,即以下用途的设备和装置:感测和/或捕获半导体和电子相关组件(包括半导体晶圆、半导体裸片、封装集成电路、印刷电路板、液晶显示器、电子显示器、以及磁盘存储介质)的图像,并自动检查这些图像以了解信息,例如缺陷、坐标或位置的确定、识别和/或其上某物的存在或缺失 【0901】检查和计量设备及装置,即以下用途的设备和装置:测量半导体和电子相关组件(包括半导体晶圆、半导体裸片、封装集成电路、印刷电路板、液晶显示器、电子显示器、以及磁盘存储介质)中的三维尺寸和特征叠加 【0910】检查和计量设备及装置,即以下用途的设备和装置:测量半导体和电子相关组件(包括半导体晶圆、半导体裸片、封装集成电路、印刷电路板、液晶显示器、电子显示器、以及磁盘存储介质)中的三维尺寸和特征叠加 【0910】检查和计量设备及装置,即以下用途的设备和装置:感测和/或捕获半导体和电子相关组件(包括半导体晶圆、半导体裸片、封装集成电路、印刷电路板、液晶显示器、电子显示器、以及磁盘存储介质)的图像,并自动检查这些图像以了解信息,例如缺陷、坐标或位置的确定、识别和/或其上某物的存在或缺失 |
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申请类似群 | 无 | 未申请类似群 | 无 |
申请人信息
申请类型 | 企业 | 地区商标 | 特拉华商标注册 |
申请人名称 | ONTO INNOVATION INC.(ONTO INNOVATION INC.) | ||
申请人地址 | 16 Jonspin Road Wilmington MA ***(16 Jonspin Road Wilmington MA 01887) |
流程信息
2022-10-06 领土延伸-驳回电子发文 2022-04-28 领土延伸-申请收文 |
公告信息
初审公告期号 | 暂无 | 初审公告日期 | 暂无 |
注册公告期号 | 暂无 | 注册公告日期 | 暂无 |